08:30  Begrüßung und Zusammenfassung 1. Tag

08:45   VDA 5.3 – Eignung von optischen Sensoren und Bildverarbeitungssystemen

• Besonderheiten von optischen Sensoren und Bildverarbeitungssystemen
• Unterschiede im Eignungsnachweis zum VDA Band 5.3
• Anwendung im Fahrzeug

Tobias Müller, WZL | RWTH Aachen

ATTRIBUTIVE PRÜFPROZESSE UND SONDERFÄLLE

09:30   VDA 5.1 Rückgeführte Inline-Messtechnik 2. Überarbeitete Auflage

• Überblick über die Neuerungen im Vergleich zur 1.Auflage
• Herausforderungen in der Anwendung des VDA Band 5.1
• Ausblick auf das Praxishandbuch / Schulungskonzepte

Christian Neukirch

10:15   Kaffeepause und Gruppenfoto

11:00   Eignungsnachweis bei Attributiven Prüfprozessen und Prüfständen

• Typische Prüfprozesse in der Praxis
• Unterschiedliche Verfahren für Eignungsnachweise
• Ermittlung der Unsicherheit und Bewertung der Prüfprozesse
• Hinweise zu Sichtprüfungen

Markus Schmidt, Testo Industrial Services GmbH

11:45    Messunsicherheit für KMGs einfach bestimmen

• Stand der Entwicklung bei VCMM (Virtual Coordinate Measuring Machine)
• Warum ist VCMM für die Praxis nur bedingt geeignet
• Vorschläge für alternative Betrachtungsweisen

Thomas Maresch, Hexagon

13:00   Mittagspause

13:45  Podiumsdiskussion (Prof. Robert Schmitt, Direktor WZL | RWTH Aachen, Präsident der DGQ; Dr. Dietrich Imkamp, ZEISS Industrial Quality Solutions; Horst Lang, Consultant)

14:45    Zusammenfassung und Verabschiedung

Gegen 15:00 Ende der Veranstaltung